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巨力 瞬态光电流/光电压测试系统

   日期:2023-11-14     浏览:8    评论:0    
核心提示:  瞬态光电流/光电压测试系统(载流子迁移率测量系统,瞬态光电流/光电压测量系统、瞬态光电性能测量系统),发光器件发光光谱
   瞬态光电流/光电压测试系统(载流子迁移率测量系统,瞬态光电流/光电压测量系统、瞬态光电性能测量系统),发光器件发光光谱分析系统以及相关器件的软件模拟研发系统,对于光电器件微观机理研究提供了有效的测试工具;多功能一体化高性能瞬态测试平台,不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等,还可以对瞬态光电流谱TPC,瞬态光电压谱TPV、调制光电流谱IMPS、瞬态光电压谱IMVS等进行测量分析,全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。
  瞬态光电流/光电压测试系统
  主要应用:
  * 无机半导体光电器件,有机半导体光电器件;
  * 有机太阳能电池OPV;
  * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell,钙钛矿LED;
  * 无机太阳能电池(例如:单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池);
  * 染料敏化太阳能电池DSSC;
  主要测量功能:
  * 大功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强,迁移率(I-V测试 & I-V-L测试,空间电荷限制电流SCLC法)
  * 载流子密度,载流子动力学过程(瞬态光电流法 TPC)
  * 载流子寿命,载流子符合动力学过程(瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV)
  * 载流子迁移率(暗注入瞬态法 DIT,单载流子器件&OLED)
  * 串联电阻,几何电容,RC时间(电压脉冲法 Pulse Voltage)
  * 参杂密度,电容率,串联电阻,载流子迁移率(暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV)
  * 载流子迁移率,载流子密度(光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV)
  * 载流子复合过程,朗之万函数复合前因子(时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV)
  * 不同工作点的载流子强度,载流子迁移率(注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV)
  * 几何电容,电容率(MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV)
  * 陷阱强弱度,等效电路(阻抗谱测试 IS)
  * 迁移率,陷阱强弱度,电容,串联电阻(电容VS频率 C-f)
  * 内建电压,参杂浓度,注入势垒,几何电容(电容VS电压 C-V)
  * 点亮电压(电流电压照度特性 I-V-L)
  * 发光寿命,载流子迁移率(瞬态电致发光法 TEL)
  * 载流子迁移率(TEL瞬态电致发光,Photo-CELIV线性增压抽取载流子)
  * OLED/钙钛矿LED发光特性测量(发光器件测量);
  更多详情请咨询:http://www.julistech.com/SonList-2162696.html
  https://www.chem17.com/st454219/erlist_2162696.html
原文链接:http://www.zbyunfeijx.com/news/show-118299.html,转载和复制请保留此链接。
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