XOS 单波长X荧光硫、氯、硅、磷含量分析仪

采用MWD XRF 单波长色散X荧光技术，超低背景

检测下限（LOD）可达0.15 ppm

简易样品制备及仪器操作过程，检测速度快

无需样品损耗或转化，无需消耗气体及高温操作

超低维护量，较少的校准频率

体积小巧，可放置于任何实验室，即插即用

分析器内无运动部件

可采用Accucell样品杯

可升级自动进样器

XOS单波长X荧光硫氯铅硅磷含量分析仪 Sindie 7039工作原理：

由低功率X射线管发射出的多波长X荧光，经一个双曲面弯晶光学元件捕获聚焦，并将具有合适波长可以激发硫K层电子的单色X射线照射在装入样品盒中的被测样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光X射线，通过另外一个双曲面弯晶光学元件仅收集由硫元素激发出的波长为0.5373 nm的Kα X射线荧光，并被一合适的探测器测量，然后用校准方程将其转换成被测样品中的硫含量。

符合标准：

ASTM D7039-15单波长色散X射线荧光测定汽油和柴油中硫的试验方法

NB/SH/T 0842-2017 轻质液体燃料中硫含量的测定单波长色散X射线荧光光谱法

ISO 20884-2019 石油产品.机动车燃料的硫含量的测定.波长色散X射线荧光光谱法

更多信息：XOS 单波长X荧光硫、氯、硅、磷含量分析仪

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https://www.chem17.com/st207072/product_35054747.html