简单型涂层测厚仪的表面上测量

 

　　会影响简单型涂层测厚仪准确度的因素：

 

　　1、边缘效应

 

　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

 

　　2、基体金属磁性质

 

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

 

　　3、表面粗糙度

 

　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

 

　　4、基体金属厚度

 

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

 

　　5、试件的变形

 

　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

 

　　6、曲率

 

　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

 

　　简单型涂层测厚仪

 

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